S-WIDE大面积3D光学测量系统

适用于快速测量大范围样品,测量面积最高可达 300x300mm。它具有集成了数码显微镜和高分辨率测量仪器的所有优点。

  • 类 别:
  • 比表面及孔径分析仪
  • 型 号:
  • S-WIDE
  • 订货号:
  • TP0001577

商品名称:S-WIDE大面积3D光学测量系统

  • 货号:TP0001577

解决方案:

先进制造业    考古学与古生物学    消费类电子产品    医疗设备    模塑     光学    钟表业

软件

软件通过清晰、直观且友好的用户界面。在 3D 环境中引导操作员,提供独一无二的用户体验。 

扩展测量

SensoSCAN 的图像拼接功能模块,让用户可以轻松定义测量范围。提供业内最大拼接范围(300x300mm),可获取高达4.5 亿像素的图像

自动化程序

使用可编辑的自动控制程序,定制“配方”工具获得自动化测量结果。它让程序定义变得轻而易举,自动识别定位点来确定样品位置,实现自动测量功能。

与 3D CAD 模型的形状比对

提供几何差异和公差测量,远心镜头获得更真实的三维图像,提供更精确的测量软件

SensoPRO

在生产线上执行快速质量控制从未显得如此简单。得益于 SensoPRO,操作员只需要加载样品,并按照引导式说明操作,即可获得“合格/

不合格”标准。基于模块化的数据分析算法提供了高度的灵活性。