EXPLORER 多功能X射线衍射仪

仪器简介

EXPLORER 在众多分析领域都可发挥优良的性能，例如可以测量混合物质的相态；检测微观的结构性质，例如薄膜或块状样品中的残应力和晶体取向等。其模块化设计，更是为仪器提供了广阔的升级空间，通过升级仪器可以满足新的分析需求。

主要特点

■ 直接传动高精度转矩马达与优良的光学编码器相结合，确保了仪器的传动速度和精度；

■ 全部组件可以拆分为7个模块，同时可以在5个独立自由度上检测样品，适用于粉末、薄膜和块状样品；

■ 可以进行常规的晶相识别和定量，可以分析晶体尺寸、晶格应变及结晶度的计算；

■ 可以定量分析残余奥氏体、多晶物筛查、晶体结构分析、残余应力分析、薄膜分析、深度剖析、相变纹理和优先取向、纳米粒子分析；

■ 光学系统可以在 Bragg-Brentano 聚焦和 Johansson 或抛面镜单色器自由切换；

■ 高分辨的反射技术，让检测厚度精确至1-500nm，几何平行光束采用了小反射角和薄膜附件，从而可以进行薄膜或层次分析；

■ 将抛面镜单色器与晶体开槽技术有机结合，并安装在入射光束上，可以获得高强度、低散射适合高分辨率测量的平行单色光；

■ 强大、简便的操作软件使得检测工作更加简单，软件同时具有其他进阶功能，可以帮助用户对复杂的谱图进行分析。