商品名称:PS50型 三维表面形貌仪
产品简介
PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器性价比高,可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。
产品特性
◆ 采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率
◆ 测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高
◆ 测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);
◆ 尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
◆ 不受环境光的影响
◆ 测量简单,样品无需特殊处理
◆ Z方向,测量范围大:为27mm
主要技术参数
◆ 扫描范围:50×50(mm)
◆ 扫描步长:0.1μm
◆ 扫描速度:20mm/s
◆ Z方向测量范围:27mm
◆ Z方向测量分辨率:2nm
产品应用
MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。
主要用于
◆ 性价比高,适合科研单位
◆ 取代传统的探针式形貌仪及干涉式形貌仪
化繁就简 集成方案
售后无忧 服务周到
品类齐全 质量优先
专业选型 技术支持
周一至周日8:00-18:00
Copyright © 2005-2019 炳洋科技 版权所有 保留一切权利 备案号:京ICP备05019512号-1