COMPACT Eco X射线荧光镀层测厚仪

    COMPACT Eco是利用X射线荧光进行镀层厚度测量和材料分析。能够快速无损分析以确保您的持续生产和产品质量。可以在无需制样的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。它能分析固体和液体。能够解决微小物品的微米纳米的厚度测量，不再因聚焦影响精度的傻瓜模式，原厂预做曲线，无需大量购买校正片。

技术规格

◆ 测定元素范围：Ti(22) U(92)

◆ 镀层和成份分析：镀层：最多同时测定5层(4层镀层+基体材料)

◆ 成份：最多同时测定20种元素

◆ X射线激发：50kV、1.2mA (60W)高压发生器，微聚焦W靶X射线管

◆ 探测器：封气正比计数器

◆ 准直器：任选：φ0.3mm或者φ0.5mm准直器

◆ 数字脉冲处理器：2048通道、数字式多道分析器

◆ 数据处理系统：Intel Pentium G2030、2G RAM、500G硬盘(配置相当或者更高)，19英寸TFT彩显，Windows 7 32bit操作系统

◆ 相机：彩色视频系统，20倍放大倍数，图像十字线，显示标尺和X射线束尺寸，被测样品图像实时显示功能

◆ 电源要求：110V、230V，60Hz/50Hz

◆ 工作环境要求：10℃－40℃室温，最高98％相当湿度(无冷凝水)，推荐在空调环境中使用

◆ 主机重量：41公斤(不包含计算机和显示器等重量)

◆ 样品台规格：240mm x 240mm样品台，程控Z轴移动距离：60mm，样品台最大承重5公斤

◆ 最大样品尺寸：380mm(W) x 370mm(D) x 100mm(H)

◆ 仪器外形尺寸：400mm(W) x 600mm(D) x 400mm(H)

COMPACT Eco优势

◆ 超高的性价比

◆ 操作简单

◆ 高质量高可靠性的全日制24小时/7天操作

◆ 快速的服务响应。

◆ 无损检测只需几秒钟，为质量保证和过程控制提供单层或多层分析，能进行合金成分的定量分析，可用 于优化电镀液控制的金属离子含量分析。

技术参数

◆ 高压发生器: 50kV,最大电流1.2mA,程序控制升压

◆ X射线管：微聚焦,优质射线管, W靶, 0.2毫米x 0.8毫米焦斑

◆ X射线功率：根据应用优化,最大50VA

◆ 单准直器：直径0.3毫米或直径0.5毫米

◆ 样品台：电动升降, Z轴高限60毫米.

◆ 影象系统：彩色影像系统,视野范围8X6毫米

◆ 图象放大倍数：光学放大20倍.

◆ 辐射安全性能：通过德国联邦物理技术研究院测试,全面安全系统

◆ 腔室：高35厘米,宽40厘米,深60厘米.

◆ 样品腔室：可用部分,高10厘米,宽38厘米,深37厘米.

◆ 供电电源：110伏/230伏60赫兹/50赫兹

◆ X-MasteR软件：使用现代计算机技术在WINDOWS下操作软件.

◆ u-MasteR软件：用于镀层厚度测量的评价模块.

◆ Fun-MasteR软件：使用基本参数法的校正模块.

◆ Element-MasteR软件：用于20种以上元素的无标样定性和定量分析.

◆ %-MasteR软件：8种以上元素的精确定量材料分析和统计计算.

◆ Liquid-MasteR软件：电镀液分析.

◆ Data-MasteR：利于文件长期归档的数据库和统计处理软件

◆ Report-MasteR软件：用于客户建立个性化报告的软件模块.